Journée technique du CFM - La mesure en flux de production
Les entreprises ont de plus en plus besoin de réaliser des contrôles tout au long des processus de fabrication afin d’éviter les défauts et les rebus couteux. Plus vite un problème sera détecté et plus vite une solution pourra être trouvée, limitant les non conformités. Il devient impératif pour l’entreprise de contrôler tout le processus industriel afin d’assurer la qualité optimum des produits.
De nombreuses technologies existent sur le marché. Les capteurs positionnés sur la ligne de fabrication fournissent un grand nombre de données, qu’il est parfois difficile de traiter correctement et rapidement. Ces données sont une source d’information très riche qui permet de suivre et d’optimiser l’intégralité de la chaîne de production, pouvant aller jusqu’à anticiper les défaillances.
Les technologies évoluant très vite et les exigences étant de plus en plus complexes, les contrôles deviennent un réel casse-tête pour assurer cette fonction de surveillance de la qualité produit. Garantir la traçabilité et la représentativité des mesures n’est pas si évident !
De surcroit, les états de surface et l’aspect des pièces ont toujours été un critère subjectif de la qualité des produits. Les contrôles dans ce domaine ont connues ces dernières années une réelle évolution.
L’objectif de cette journée technique est de faire un point sur :
- les capteurs et technologies disponibles, notamment en vision,
- le traitement et le suivi des mesures en production,
- les évolutions technologiques dans le domaine du contrôle en ligne par MMT,
- les contrôles dans des cas à la marge des technologies,
- les mesures d’état de surface et d’aspect,
- …
Programme
9h30 - Accueil des participants
9h45 - Ouverture et introduction de la JT
Jacques-Olivier FAVREAU - CFM
François HENNEBELLE - Université de Bourgogne
10h00 - Possibilités et limites en vision industrielle
Fabrice MAIRESSE - Université de Bourgogne
10h45 - Le contrôle optique à 100% : état des lieux
Christy AROKIANATHAN - KEYENCE FRANCE
11H 15 - Pause
11h30 - Mesures en flux de production : acquisition, traitement et exploitation des mesures
Louis NEVES - QDAS
12h00 - Retours d’expériences de contrôles en production
Georges CHEROUTE - Renault
12h30 - Déjeuner
14h00 - La métrologie au service des nanotechnologies
Gwennaelle MAKHLOUFI - ST Microelectronics
14h30 - Mesure 3D en production
Stefano BELOTTI - Carl ZEISS
15h00 - Pause
15h15 - Un projet européen en polissage laser et métrologie des surfaces spéculaires ou transparentes
Serge CARRAS - ALTIMET
15h45 - Analyse de l’aspect de pièces
Gaëtan LE GOIC - Université de Savoie/Université de Bourgogne
16h30 - Discussion entre participants et intervenants
17h00 - Fin de la journée
